01｜光學(xué)波導的四波混頻產(chǎn)生及應用
報告人簡(jiǎn)介：
李康，男，英國南威爾士大學(xué)無(wú)線(xiàn)與光電子研究創(chuàng )新中心高級研究員，博士生導師。中國科學(xué)院大學(xué)博士。英國物理學(xué)會(huì )會(huì )員，美國光學(xué)學(xué)會(huì )會(huì )員。長(cháng)期從事激光功率器件，可調諧激光光源及測量，激光與物質(zhì)作用，發(fā)光超材料等研究。主持并參與多項英國創(chuàng )新研發(fā)項目，累計金額超過(guò)兩百萬(wàn)英鎊。與國際各大光電公司合作研發(fā)產(chǎn)品多項，發(fā)表論文80余篇，申請和擁有國際專(zhuān)利4項，國內專(zhuān)利10項。
報告摘要：
四波混頻（FWM）在各個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛研究和應用，特別是在光通訊領(lǐng)域。為了實(shí)現不同波長(cháng)之間的信號轉換，高非線(xiàn)性光纖被用于實(shí)現寬帶高效的波長(cháng)轉換，這在密集波分復用（DWDM）系統中得到了廣泛應用。同時(shí)，在精密測量和檢測領(lǐng)域，對小型化和高效的四波混頻器件的需求日益增長(cháng)。
本報告擬討論基于硅基絕緣體（SOI）及III-V族材料的高非線(xiàn)性光學(xué)波導的四波混頻產(chǎn)生及應用。報告將分析SOI及III-V族材料的高非線(xiàn)性光學(xué)特性，并介紹本課題組和其他國際前沿課題組的最新研究進(jìn)展。此外，報告將對比討論SOI及III-V族材料的高非線(xiàn)性光學(xué)波導在四波混頻產(chǎn)生效率方面的區別。報告還將分析討論SOI及III-V族材料光波導耦合器的設計和測試結果，探討最終實(shí)現高效、高功率、小型化四波混頻光芯片的可能性。
02｜非破壞性聚合物基產(chǎn)品表面粗糙度分析整合激光散斑技術(shù)
報告人簡(jiǎn)介：
Adam Jones，男，英國南威爾士大學(xué)講師?，F為無(wú)線(xiàn)與光電子研究創(chuàng )新中心（WORIC）的兼職研究員。他的博士研究與工業(yè)合作伙伴塔塔鋼鐵公司合作，致力于探索和開(kāi)發(fā)一種用于鋼包裝產(chǎn)品涂層厚度測量的創(chuàng )新非破壞性在線(xiàn)測量系統。主持并參與多項英國創(chuàng )新研發(fā)項目。
報告摘要：
在本次研究講座中，我們將介紹一種針對聚合物樣品表面粗糙度測量的突破性方法，該方法基于激光散斑光度原理，具有非接觸和非破壞性的特點(diǎn)，非常適合用于過(guò)程中的實(shí)時(shí)測量。我們將詳細介紹一種用于聚合物樣品表面粗糙度離線(xiàn)表征的方法，該方法利用觸針輪廓儀，這是在聚合物制造中不常用的技術(shù)。在我們的研究中，我們對不同形狀輪廓的聚合物產(chǎn)品上的激光散斑的可靠性和穩定性進(jìn)行了深入調查，并通過(guò)平均強度匹配技術(shù)取得了成功。這使我們能夠將表面粗糙度與兩種激光散斑統計參數（激光散斑對比度和二值化技術(shù)）相關(guān)聯(lián)。通過(guò)這種方法，我們能夠提供有關(guān)聚合物制造過(guò)程中表面粗糙度測量技術(shù)的重要見(jiàn)解。本研究的結果不僅解決了聚合物制造中現有的表面粗糙度評估挑戰，還顯著(zhù)提高了產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。我們的技術(shù)為改進(jìn)制造工藝和確保聚合物產(chǎn)品的可靠性提供了寶貴的工具，具有廣泛的應用前景。
03｜外腔激光二極管在腔長(cháng)、光反饋、譜線(xiàn)寬度和散斑條件下的實(shí)驗研究
報告人簡(jiǎn)介：
Chris Evered，男，英國南威爾士大學(xué)在讀博士生。他的研究由KESS計劃資助，并與Global Laser Ltd合作進(jìn)行。他的研究重點(diǎn)是開(kāi)發(fā)一種低成本、穩定的基于外腔的消散斑激光器。該技術(shù)旨在提高工業(yè)視覺(jué)圖像的質(zhì)量，特別是在制造業(yè)和其他工業(yè)環(huán)境中。
報告摘要：
本報告探討不同反饋程度對散斑減少的影響，發(fā)現通過(guò)調節外腔激光器（ECL）可以實(shí)現激光線(xiàn)寬的展寬。我們研究了在外部光反饋（EOF）條件下可見(jiàn)光激光二極管（LD）的激光散斑對比度（LSC），探索這些參數之間存在顯著(zhù)的相關(guān)性。
本報告擬討論可變反饋參量（fext）、外腔長(cháng)度（ECL）和泵浦電流（J）的實(shí)驗裝置，調查它們與光學(xué)線(xiàn)寬和外部光反饋引起的散斑對比度（SC）減少之間的關(guān)系?？偣彩占似叻N反饋分數、兩種泵浦電流和三種外腔長(cháng)度的散斑對比度和光學(xué)線(xiàn)寬數據。結果表明，我們實(shí)現了最高3.90?nm（1/e2寬度）的光學(xué)線(xiàn)寬，散斑對比度減少最多達到41.6%。此外，研究揭示了散斑對比度與光學(xué)線(xiàn)寬、散斑對比度與反饋分數之間的負相關(guān)關(guān)系，以及光學(xué)線(xiàn)寬與反饋分數之間的正相關(guān)關(guān)系。
